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德國Heidenhain編碼器測量基準ROD4305000

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  • 更新時間:2020-08-20

德國Heidenhain編碼器測量基準ROD4305000
典型柵距不超 過8 µm ? OPTODUR相位光柵:光學三維平面格 柵線條,超高反光性能,典型柵距不超 過2 µm 這種方法除了能刻制柵距非常小的光柵 外,而且刻制的光柵線條邊緣清晰、均 勻。再加上光電掃描法,這些邊緣清晰 的刻線是輸出高質量信號的關鍵。 母版光柵采用海德漢公司定制的精密 刻線機制造。

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 德國Heidenhain編碼器測量基準ROD4305000

 海德漢公司的光學掃描光柵尺或編碼器的 測量基準都是周期刻線-光柵。 這些光柵刻在玻璃或鋼材基體上。大長度 測量用的光柵尺帶的基體為鋼帶。 海德漢公司用特別開發的光刻工藝制造 精密光柵。 • AURODUR:在鍍金鋼帶上蝕刻線條, 典型柵距40 µm • METALLUR:抗污染的鍍金層金屬線, 典型柵距20 µm • DIADUR:玻璃基體的超硬鉻線(典型柵 距20 µm)或玻璃基體的三維鉻線格柵 (典型柵距8 µm) • SUPRADUR相位光柵:光學三維平面格 柵線條;*抗污能力;

典型柵距不超 過8 µm • OPTODUR相位光柵:光學三維平面格 柵線條,超高反光性能,典型柵距不超 過2 µm 這種方法除了能刻制柵距非常小的光柵 外,而且刻制的光柵線條邊緣清晰、均 勻。再加上光電掃描法,這些邊緣清晰 的刻線是輸出高質量信號的關鍵。 母版光柵采用海德漢公司定制的精密 刻線機制造。

 測量法是指編碼器通電時就立即提供 位置值并隨時供后續信號處理電子電路讀 取。無需移動軸執行參考點回零操作。 位置信息來自圓光柵碼盤,它由一系 列碼組成。編碼結構在每轉中都一。 獨立的增量刻軌用單場掃描原理讀取和轉 換成位置值。

增量測量法的光柵由周期性刻線組成。位 置信息通過計算自某點開始的增量數(測 量步距數)獲得。由于必須用參考點 確定位置值,因此在光柵尺或光柵尺帶上 還刻有一個帶參考點的軌道。參考點確定 的光柵尺位置值可以到一個測量 步距。 因此,必須通過掃描參考點建立基準 點或確定上次選擇的原點。 有時,這需要旋轉近360°。為加快和簡化 “參考點回零”操作,許多海德漢光柵尺 刻有距離編碼參考點,這些參考點彼此相 距數學算法確定的距離。移過兩個相鄰參 考點后(一般只需數度)(見表中“名義 增量值 I”),后續電子電路就能找到絕 對參考點。 凡是距離編碼參考點編碼器在型號后均 帶有字母“C”(例如RON 786C)。

 其中: Þ1 = 個移過的參考點相對零點位置 的角度位置,單位度 abs = 值 sgn = 代數符號(“+1”或“–1”) MRR = 移過參考點間的被測距離,單位度 I = 兩個固定參考點間的名義增量值 (見表) GP = 柵距( 360° ) D = 旋轉方向(+1或–1) 向右轉(向角度編碼器安裝面看 —參見“配合尺寸”)為“+1” 

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